集成电路科学与工程学院讲师彭守仲和2017级博士生朱道乾为该论文的共同第一作者,赵巍胜教授是唯一通讯作者,北京航空航天大学为第一单位,美国加州大学洛杉矶分校KangL.Wang教授和HaoWu博士、美国国家标准与技术研究院AlexanderJ.Grutter和DustinA.Gilbert及美国劳伦斯伯克利国家实验室PadraicShafer等人参与了该工作。